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碳化硅微粉粒度分布日標JIS R 6001-2:2017和國標W標的區(qū)別

發(fā)布時間：2021-06-14 10:14:50 瀏覽次數(shù)：次

 
       粒度分布是碳化硅磨料微粉最重要的技術指標，它直接影響顆粒的細度和研磨精度。“粒度”是指一個粉體樣品顆粒大小的總體描述。詳細的要用粒度分布來表示，在實用中一般只取幾個關鍵參數(shù)，例如磨料JIS標準中的D50、D94、D3。由于實際的微粉顆粒是不規(guī)則的，而且同一樣品中各顆粒之間也不一致，所謂顆粒的大小，用不同方法就會得出不同的結(jié)果，用相同方法但是不同型號的檢測儀器得出的結(jié)果也不同。因此任何微粉產(chǎn)品的粒度標準，都必須注明所用測量儀器的原理和機器型號。國內(nèi)通常采用國標“W標”和日標“JIS(JAS)”兩種標準。

       W 標準粒徑的定義

       國家標準：俗稱W標準，因在粒度號前冠以字母W而得名，W是漢語“微粉”中“微”字的拼音首字母。
       W標準是建立在用顯微鏡刻度尺測量顆粒大小的方法上的。這種方法規(guī)定用顆粒的最大寬度代表顆粒的大小。該標準以大致為公比對顆粒大?。ㄓ址Q“粒徑”）分檔，例如40、28、20、14、10等等（單位為“μm”），又把微粉樣品中的顆粒按上述分檔法為基本粒、混合粒、細粒、粗粒和最大粒。具體的明細如下。
粒
度		 最粗粒 粗粒 基本粒 混合粒 細粒
尺寸
范圍		 允許顆粒 尺寸
范圍		 重量%
不多于		 尺寸
范圍		 重量%
不少于		 尺寸
范圍		 重量%
不少于		 尺寸
范圍		 重量%
不多于
W63 100-80 1 80-63 15 63-50 50 63-40 80 細于40 5
W50 80-63 1 63-50 15 50-40 50 50-28 80 細于28 5
W40 63-50 1 50-40 15 40-28 50 40-20 80 細于20 5
W28 50-40 1 40-28 18 28-20 45 28-14 74 細于14 8
W20 40-28 1 28-20 18 20-14 45 20-10 74 細于10 8
W14 28-20 2 20-14 20 14-10 45 14-7 72 細于7 8
W10 20-14 2 14-10 20 10-7 40 10-5 70 細于5 10
W7 14-10 2 10-7 20 7-5 40 7-3.5 70 細于3.5 10
W5 10-7 3 7-5 20 5-3.5 40 5-2.5 70 細于2.5 10
 
       JIS 標準粒徑的定義
       日本標準推薦的儀器有兩種原理：一是電氣抵抗法（即電阻法或稱庫爾特法），二是沉降管法。兩種方法由于原理不同，標準值也不同，例如，JIS#1500，電阻法D50值為8.0±0.6μm，而沉降管法的D50為10.51μm。沉降管法速度慢，人工參與多，實際上很少被采用?，F(xiàn)在人們通常說的JIS標準指的都是用電阻法的。日本標準采用“最大粒、D3、D50和D94”等4個參數(shù)表述一個牌號微粉的粒度，這里，最大粒的概念是很清楚的，D3、D50和D94則表示從最大粒徑開始算到這些粒徑值的顆粒（以重量計）含量分別為3%、50%和94%。具體的明細如下：
 
 
粒度 D0 D3 D50 D94
240# 127以下 103以下 57.0±3.0 40以上
280# 112以下 87以下 48.0±3.0 33以上
320# 98以下 74以下 40.0±2.5 27以上
360# 86以下 66以下 35.0±2.0 23以上
400# 75以下 58以下 30.0±2.0 20以上
500# 63以下 50以下 25.0±2.0 16以上
600# 53以下 41以下 20.0±1.5 13以上
700# 45以下 37以下 17.0±1.5 11以上
800# 38以下 31以下 14.0±1.0 9.0以上
1000# 32以下 27以下 11.5±1.0 7.0以上
1200# 27以下 23以下 9.5±0.8 5.5以上
1500# 23以下 20以下 8.0±0.6 4.5以上
2000# 19以下 17以下 6.7±0.6 4.0以上
2500# 16以下 14以下 5.5±0.5 3.0以上
3000# 13以下 11以下 4.0±0.5 2.0以上
4000# 11以下 8.0以下 3.0±0.4 1.8以上
6000# 8.0以下 5.0以下 2.0±0.4 0.8以上
8000# 6.0以下 3.5以下 1.2±0.3 0.6以上
 
        日本標準與中國W標準的主要區(qū)別有二點：
其一，日本標準規(guī)定使用粒度儀器（電阻法或沉降管法）測量微粉的粒度分布,而中國W標準則用顯微鏡目視法測量顆粒大小，精度較低，受人為因素影響大。
其二，日本標準對粒度號的區(qū)分比較細，從#240（D50=57μm）到#8000 (D50 = 1.2μm）共分18個號,而中國W標準從W63（D50≈50μm）到W3.5（D50≈2.5μm)共分10個號，因而按照日標生產(chǎn)的顆粒精度更高，粒度也更加集中。
 

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